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扫描电子显微镜(SEM)

SuperSEM N10XL大样品室桌面式扫描电镜

超大样品室赋能,能谱伪彩成像,重新定义桌面式扫描电镜!
SuperSEM N10XL大样品室桌面式扫描电镜

大红鹰DHY0006官网全新推出的SuperSEM N10XL桌面式扫描电镜,集超大样品室、智能化操作与稳定高性能于一体,专为应对现代工业检测与科研中多样化的样品观察需求而设计。其样品仓可轻松容纳直径达100毫米、高80毫米的大尺寸或复杂零件,用户无需切割破坏即可直接对完整工件进行原位微观分析,极大拓展了在半导体封装、金属材料、陶瓷元件及新能源电池等领域的现场检测能力。设备采用大红鹰DHY0006官网自主研发的高性能电子光学系统与钨灯丝光源,在低真空模式下也可实现纳米级分辨率成像,轻松实现“即放即看”的高效工作。


作为一款现代化的桌面电镜,SuperSEM N10XL深度融合智能化与人性化。其坚固可靠的机械结构与免维护设计,确保了仪器在办公室、生产车间、教学实验室等多种环境下均能稳定运行。SuperSEM N10XL桌面电镜以其卓越的易用性、可靠的性能,正成为材料检测、质量管控、科学教育及企业研发领域的理想微观分析工具,让前沿的扫描电镜技术从此变得高效、普及且触手可及。


使用优势

全新大尺寸样品仓设计

全新优化升级大规格样品仓,外设扩展接口扩容至25个,兼容多类探测器、原位测试模块同步搭载,拓展设备集成能力。样品仓可适配6寸晶圆等大尺寸试样,兼容半导体晶圆、大面积板材、大型陶瓷构件等多种样品,大幅拓宽材料检测应用边界。

实时能谱伪彩成像

通过能谱(EDS)实时捕捉样品释放的特征X射线,扫描电镜(SEM)彻底摆脱“色盲”的局限,步入一个七彩斑斓的微观世界。这些特征X射线被转化为绚丽的伪彩色图像,仿佛为元素分布绘制了一幅生动的“元素地图”,不仅让客户直观感受到元素分布的规律与含量信息,更将微观世界的奥秘清晰呈现,一目了然。

可视化能谱分析

自由选择分析范围,针对图像上点、线、面等不同区域的元素鉴别,配以优异的可视化分析算法和软件,实现相近谱峰精准分离、元素空间分布展示等功能,可应用于研究材料的界面布局、元素均匀性、扩散等特性。

实时成分信息

与传统的扫描电镜不同,本仪器将EDS作为一种探测器一起集成在电镜上,独家开发BSE视频数据和EDS能谱数据同步处理的算法,可扫描获取多种信号同时执行元素分析,实时检测形貌与各种元素含量信息。

标配低真空模式

抽真空时间短,样品更换便捷,提升检测效率。高真空模式,适用于导电样品,可获得最佳分辨率和信噪比;低真空模式,适用于非导电样品(如陶瓷、高分子、生物组织),无需喷金处理,直接观察。

实时谱图对比

告别漫长等待!本系统打破传统束缚,让定量分析结果如同"直播"般实时呈现。您可以在数据采集的同时,轻松调取历史谱图进行即时对比,这种"边采边对比"的智能体验,助力您的工作效率飞升!

一键式操作,更好的使用体验

本软件采用极简易用设计理念,一体式聚光镜告别繁琐的手动调节,自动维持最佳电子束状态。只需轻点鼠标,亮度对比度优化、精准聚焦、像散校正、全景拼接等复杂操作一键搞定,让新手也能在10分钟内变身操作达人,轻松玩转微观世界

标配低真空模式

抽真空时间短,样品更换便捷,提升检测效率。高真空模式,适用于导电样品,可获得最佳分辨率和信噪比;低真空模式,适用于非导电样品(如陶瓷、高分子、生物组织),无需喷金处理,直接观察。

预对中钨灯丝

非预对中灯丝需要用户自行组装、操作麻烦。操作不当易导致光路偏移,影响成像,耗费灯丝。预对中钨灯丝即换即用,无需调节灯丝像,操作便捷,客户可自行更换。

一键自动调节

支持自动聚焦、自动亮度对比度调节、自动消像散,一键即可完成图像优化,显著降低操作门槛,新手也能快速上手。

丰富的探测器选择

SuperSEM N10XL装备了强大的"探测天团",二次电子探测器、背散射电子探测器、集成式能谱仪三种探测器强强联手,为您打造全方位的微观分析体验!




应用场景

SuperSEM N10XL桌面式扫描电镜(图5)

新能源材料

在新能源材料研究中,SEM为新能源材料的研发和性能优化提供了重要的微观信息。其能清晰显示电池电极材料的颗粒大小和孔隙结构,可区分不同材料相,帮助研究人员了解材料的均匀性。能谱探测器可用于分析材料成分,确保材料纯度和一致性。


SuperSEM N10XL大样品室桌面式扫描电镜(图2)

半导体行业

SEM主要用于对晶圆、芯片及封装结构进行微观形貌观察与缺陷分析。其应用覆盖芯片制造的前道工艺和后道封装环节,可灵活部署于实验室内或产线附近,有效缩短样品送检周期,提升工艺监控的及时性。


SuperSEM N10XL桌面式扫描电镜(图6)

金属材料

SEM可用于观察金属微观组织结构,可清晰呈现晶粒大小和晶界形态,为了解金属基本性能提供依据;可区分不同相,助力相分析。能谱探测器可分析金属成分,检测杂质元素。

SuperSEM桌面式多功能实时能谱扫描电镜(图4)


地球科学

在地球科学中,SEM可观察矿物晶体的形态、大小和排列方式,帮助科学家推断矿物的形成环境,也能区分不同矿物成分,为岩石的成分分析提供直观图像。搭配EDS可用于精确分析矿物的元素组成,确定矿物种类。为地质学家研究地球历史和地质过程提供了重要的微观证据。

SuperSEM N10XL桌面式扫描电镜(图3)

生命科学

SEM可用于观察细胞和生物组织的表面结构,清晰呈现细胞的轮廓、微绒毛等细节,帮助研究人员了解细胞的形态和功能。背散射电子探测器可以根据细胞成分的差异进行区分,提供细胞内部结构的初步信息。能谱探测器可用于分析细胞内元素的分布,如钙、磷等,为生物材料研究和细胞生物学研究提供基础数据。


SuperSEM N10XL桌面式扫描电镜(图1)


材料科学

在材料科学中,SEM可清晰观察材料表面的微观形貌,如晶粒大小和分布,帮助研究人员初步了解材料结构。背散射电子探测器能根据原子序数差异区分不同材料相,为相分析提供依据。能谱探测器则用于基本的成分分析,确定材料中元素的种类和大致含量。这些功能为材料的初步研究和性能评估提供了重要的微观信息。


SuperSEM N10XL桌面式扫描电镜(图2)


工业制造

SEM主要用于质量检测和工艺优化,可检查零件表面的加工痕迹、磨损情况以及微观缺陷,确保产品精度和质量;识别材料成分差异,帮助发现杂质或材料不均匀性;进一步分析材料成分,确保符合设计要求。其有助于提高产品质量,减少次品率,优化生产流程。






规格参数

尺寸(W×L×H)                   350 mm× 620 mm× 600 mm
重量66kg
加速电压0-20 kV

三轴自动样品台   

(可选配五轴样品台)

X:100mm Y:100 mm Z:60 mm
最大样品尺寸

200 mm(直径)60mm(厚度)

最大放大倍率

≥250000x

电子枪预对中钨灯丝电子枪
探测器

背散射电子:高感度4分割 背散电子检测器

二次电子:二次电子检测器

EDS:实时能谱探测器

EDS参数

探测器类型:硅漂移探测器

探测面积:30mm2

元素分析范围:B(硼)-Cf(锎)

低真空模式

标配



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